NAIST 奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学研究科 ~光ナノサイエンス~

情報機能素子科学研究室の浦川哲君(博士後期課程1年)がAMFPD 2013国際会議において、Poster Awardを受賞

2013年7月2-5日に龍谷大学アバンティ響都ホールにて開催されたAMFPD 2013 (The 20th International Workshop on Active-Matrix Flat-panel Displays and Devices)国際会議において,情報機能素子科学研究室の浦川哲君(博士後期課程1年)がPoster Awardを受賞しました.同賞は,ポスター発表30件の中から1名に贈られました.

Thermal Degradation and Theoretical Analysis of Amorphous Oxide Thin-Film Transistor

浦川哲(D1),笘井重和(出光興産),笠見雅司(出光興産),矢野公規(出光興産),Dapeng Wang(高知工科大),古田守(高知工科大),木村睦(龍谷大),堀田昌宏(助教),石河泰明(准教授),浦岡行治(教授)

この度,AMFPD 2013国際会議において,私たちの研究内容を高く評価していただいたことを大変光栄に感じております.今回の受賞に関しまして,浦岡教授を始めとして,ご指導いただきました共同研究者の皆様,及び研究室の皆様に,この場を借りて深く御礼申し上げます.
今後も頂いた賞を励みに,透明酸化物半導体のデバイス応用に取り組んで参ります.

熱伝導性の低いガラス基板の上に形成される薄膜トランジスタ(TFT)は,その自己発熱効果によって電気特性が著しく劣化してしまう.この問題は透明ディスプレイの実現において解決すべき問題の1つである.本発表では発熱に起因した劣化メカニズムの解明を目的に,透明酸化物半導体InSnZnO-TFTの電気的ストレスに対する素子の自己発熱効果とその劣化現象との関係を解析した.その結果,電圧印加時のTFTはその電圧条件とさらに素子構造によって発熱現象が大きく異なり,その発熱効果はゲート絶縁膜界面とドレイン電極端での劣化を促進することを示しました.

本発表は,発熱現象の観点から素子の問題点を解析したものであり,現在注目されている透明性を持ったデバイスに対して,非常に重要な成果である.

 

情報機能素子科学研究室のホームページはこちらをご覧ください.

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