2014.2 - 2014.5 | Study Abroad - ECTM, Delft University of Technology, The Nethserlands | |
2014.1 - 2014.2 | Study Abroad - University of California Davis, US | |
2013.9 - present | Ph.D Program - Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology, JAPAN | |
2012.4 - 2013.9 | Master Program - Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology, JAPAN | |
2008.4 - 2012.3 | Bachelor Program - Department of Science, Kochi University, JAPAN |
Doctoral cource | 酸化物TFTによるプリンタブル集積回路の作製 |
Master's cource | 酸化物TFTの信頼性評価および劣化現象の解析 |
2015 | Poster Award, The 22nd IDW |
2014 | 学振特別研究員DC1採用 |
2014 | 平成25年度NAIST優秀学生 授業料免除 |
2014 | 第一種奨学金半額免除 博士後期課程 |
2014 | 第一種奨学金全額免除 博士前期課程 |
2013 | 博士前期課程短期終了 |
2013 | Poster Award, International Workshop on AM-FPD |
2013 | 平成25年度競争的研究支援,20万円 |
1. |
Satoshi Urakawa, Shigegazu Tomai, Yoshihiro Ueoka, Haruka Yamazaki, Masashi kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Uraoka Yukiharu, "Thermal analysis of amorphous oxide thin-film transistor degraded by combination of joule heating and hot carrier effect", Appl. Phys. Lett., 102,053506 (2013) |
2. |
Satoshi Urakawa, Shigegazu Tomai, Yoshihiro Ueoka, Haruka Yamazaki, Masashi kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Uraoka Yukiharu, "Thermal Distribution in Amorphous InSnZnO Thin-Film Transistor", Phys. Stat. Sol. (c), 10,1561-1564 (2013) |
3. |
浦川哲, 上岡義弘, 山アはるか, 石河泰明, 浦岡行治 "デバイスシミュレーションによるアモルファス酸化物半導体における劣化現象の理論的解析", IEICE Technical Report. (c) |
1. |
Satoshi Urakawa, Yasuaki Ishikawa, Yukihiro Osada, Mami N. Fujii, Masahiro Horita, and Uraoka Yukiharu, The 21st International Display Workshops, (ITC 2014), Niigata, Japan, December 2014 (Poster) |
2. |
Satoshi Urakawa, Shigegazu Tomai, Yoshihiro Ueoka, Haruka Yamazaki, Masashi kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Uraoka Yukiharu, 9th International Thin-Film Transistor Conference (ITC 2013), Tokyo (University of Tokyo), Japan, March 2013 (Oral) |
3. |
Satoshi Urakawa, Shigegazu Tomai, Yoshihiro Ueoka, Haruka Yamazaki, Masashi kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Uraoka Yukiharu, International Device Physics Young Scientist Symposium, Nara, Japan, March 2013 (Oral) |
4. |
Satoshi Urakawa, Shigegazu Tomai, Yoshihiro Ueoka, Haruka Yamazaki, Masashi kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Uraoka Yukiharu, International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS 2013), Kobe, Japan, May 2013 (Oral) |
5. |
Satoshi Urakawa, Shigekazu Tomai, Masashi Kasami, Koki Yano, Dapeng Wang, Mamoru Furuta, Mutsumi Kimura, Masahiro Horita, Yasuaki Ishikawa, and Yukiharu Uraoka, 2013 International Workshop on Active-Matrix Flatpanel Displays and Devices (AM-FPD ’13), Kyoto, Japan, July 2013 (Poster) |
1. |
浦川哲,石河泰明,長田至弘,藤井茉実,堀田昌宏,浦岡行治, "塗布型a-InZnO薄膜トランジスタに向けた銀ナノペーストの印刷適性", 2015年度応用物理学会春季講演会, 東海大学, 3月, 2015年 |
2. |
浦川哲,石河泰明,堀田昌宏,浦岡行治, "高安定性アモルファスInAlZnO薄膜トランジスタ", 2013年度応用物理学会秋季講演会, 同志社大学, 9月, 2013年 |
3. |
浦川哲,笘井重和,笠見雅司,矢野公規,Dapeng Wang,古田守,堀田昌宏,石河泰明,浦岡行治, "酸化物薄膜トランジスタにおける発熱効果および劣化現象のサイズ依存性", 2013年度応用物理学会秋季講演会, 同志社大学, 9月, 2013年 |
4. |
浦川哲,笘井重和,上岡義弘,山崎はるか,笠見雅司,矢野公規,Dapeng Wang,古田守,堀田昌宏,石河泰明,浦岡行治, "酸化物薄膜トランジスタの自己発熱効果における熱劣化解析", 2013年度応用物理学会春季講演会, 神奈川工科大学, 3月, 2013年 |
5. |
浦川哲,堀田昌宏,石河泰明,浦岡行治, "アモルファス酸化物薄膜トランジスタにおける発熱シミュレーション", 2013年度応用物理学会春季講演会, 神奈川工科大学, 3月, 2013年 |
6. |
浦川哲,上岡義弘,山崎はるか,石河泰明,浦岡行治, "デバイスシミュレーションによるアモルファス酸化物半導体における劣化現象の理論的解析", 電子情報通信学会 シリコン材料・デバイス研究会, 京都大学, 12月, 2012年 |