装置一覧

繁忙期の対応、利用制限について

  • 学内繁忙期や高頻度での御利用などは日程調整の際に学内利用を優先することがあります。
  • 幅広いユーザーにご利用いただくために、装置毎に1日当たりの標準測定試料数を設定しております。詳細はお問い合わせください。

ご利用可能な機器


利用装置には制度の運営上、支援機器と支援試行機器の分類がございますが、利用いただくにあたっては、特に区別はございません。
装置群機 器・装 置 名メーカー名・型 式
顕微鏡装置 ※300kV透過電子顕微鏡(300kV‐TEM) JEOL - JEM‐3100FEF
200kV透過電子顕微鏡(200kV‐TEM) JEOL - JEM‐2200FS
走査透過電子顕微鏡(STEM) HITACHI - HD‐2700
超高分解能電界放出型電子顕微鏡(FE‐SEM) HITACHI - SU9000
低真空分析走査電子顕微鏡 HITACH - SU6600
走査プローブ顕微鏡(SPM) HITACHI - SPA400
X線解析装置 ※微小結晶X線構造解析装置 Rigaku - VariMax RAPID RA‐Micro7
X線構造解析装置 Rigaku - SmartLab9kW/IP/HY/N
高輝度X線発生装置 Rigaku - NanoViewer
質量分析装置 ※MALDI‐Spiral‐TOF‐MS JEOL - JMS‐S3000
※MALDI‐TOF‐MS Bruker - autoflexⅡ
二重収束型質量分析計(Sector‐MS) JEOL - JMS‐700 Mstation
LC/TOF‐MS JEOL - JMS‐T100LC AccuTOF
表面分析装置 ※多機能走査型X線光電子分光分析装置(XPS) ULVAC‐PHI PHI5000VersaProbeⅡ
電子線マイクロアナライザ(EPMA) SHIMADZU - EPMA1610
二次イオン質量分析装置(SIMS) ULVAC‐PHI ADEPT‐1010
走査プローブ顕微鏡(SPM) HITACHI - SPA400
物性測定装置 ※熱/電気物性評価装置(PPMS) Quantum Design - PPMS EverCool Ⅱ
※大気中光電子分光装置 RIKEN KEIKI - AC‐3
※分光感度・内部量子効率測定装置 BUNKOUKEIKI - CEP‐2000RP
示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 HITACHI - DSC 7000X/STA 7200
光学測定装置 顕微レーザーラマン分光光度計 JASCO - NRS‐4100
円二色性分散計(CD) JASCO - J‐725
ダイナミック光散乱光度計 Otsuka Electoronics - DLS‐6000
分光エリプソメーター HORIBA JOBIN YVON - UVISEL ER AGMS‐NSD
フェムト秒パルスレーザー
サブナノ秒パルスレーザー(窒素)
ストリークスコープ
Coherent - Mira 900
USHO - KEC‐160
HAMAMATSU - C4780
核磁気共鳴装置
電子スピン共鳴装置
超伝導NMR JEOL - JNM‐ECA600
JEOL - JNM‐ECX500
400MHz固体超伝導NMR JEOL - JNM‐ECX400P
電子スピン共鳴装置(ESR) JEOL - JES‐FA100N
元素分析装置 全自動元素分析装置 PerkinElmer - 2400ⅡCHNS/O
段差計/膜厚計装置 微細形状測定装置 Kosaka Laboratory - ET200
電気特性評価装置 微小デバイス特性評価装置(nanoEBAC) Hitachi - NE4000

※支援機器