装置一覧

繁忙期の対応、利用制限について

  • 繁忙期や大口利用などは日程調整の際に学内利用を優先することがあります。
  • 幅広いユーザーにご利用いただくために、装置毎に1日当たりの標準測定試料数を設定しております。詳細はご相談ください。

主な支援機器

設備(設備群)名仕様
透過型電子顕微鏡 日本電子社製透過電子顕微鏡
型番:JEM-3100FEF
加速電圧:300kV
倍率:100~2,000,000倍
分析オプション:
・走査像観察(STEM)
・電子エネルギー損失分光
・クライオシステム
・TEMト モグラフィーシステム
単結晶X線回折装置 リガク社製単結晶X線回折装置
型番:ValiMax RAPID RA-Micro7
出力:1.2kW
実効輝 度:31kW/mm2
ターゲット:Mo
検出器:イメージングプレート
試料冷却装置(液体窒素温度)
質量分析装置 Bruker Daltonics社製 MALDI-TOF質量分析装置
型番:Autoflex II
MALDIイオン化部:窒素レーザー
・リニアー/リフレクターモード
質量分析限界:~1,000,000
MALDI-Spiral-TOF質量分析装置 JEOL製MALDI-Spiral-TOF質量分析装置
型番:JMS-S3000
・Spiral/リニアTOF/TOF-TOF
質量分解能:75,000(FWHM)
質量精度(内部標準法):1ppm(平均誤差)
質量精度(外部標準法):10ppm(平均誤差)
レーザー:波長349nm
質量範囲:m/z 4-30,000
光電変換分子材料評価装置:
光電圧特性評価ユニット
理研計器社製 大気中光電子分光
型番:AC-3
エネルギー操作範囲:4.00-7.00 eV
大気中計測
光電変換分子材料評価装置:
可視・近赤外光電流効率評価ユニット
分光計器社製 分光感度・内部量子効率測定装置
型番:CEP-2000RR
測定波長範囲:300-1700 nm
ナノ材料熱電特性評価装置 カンタムデザイン社製 物理特性評価システムPPMS
比熱測定、ACトランスポート測定、サーマルトランスポート、モジュラーコントロールシステム、電気輸送計測、循環冷却
2次元光電分光装置 光電子分光装置
最高エネルギー分解能:0.5eV、
帯電中和機構、Arガスクラスターイオン銃

支援試行機器

装置群機 器・装 置 名メーカー・型 式
顕微鏡・TEM試料作製装置 透過電子顕微鏡(TEM) JOEL、JEM-2200FS
走査透過電子顕微鏡(STEM) HITACHI、HD-2700
超高分解能電界放出形電子顕微鏡(FE-SEM) HITACHI、SU9000
走査電子顕微鏡(SEM) 日立ハイテクノロジーズ、SU6600
微小デバイス特性評価装置(ナノプローバー) 日立ハイテクノロジーズ、nanoEBAC NE-4000
走査型プローブ顕微鏡(SPM) エスアイアイ・ナノテクノロジー、SPA400
X線装置 X線構造解析装置 新機種準備中
X線散乱測定装置 リガク社、Micro/Max-007HF
質量分析装置 二重収束型質量分析計(EI、CI、 FAB) JEOL、JMS-700
ESI専用飛行時間型質量分析計(TOF-MS) JEOL、JMS-T100LC
核磁気共鳴装置・電子スピン共鳴装置 超伝導NMR JEOL、JNM-ECA600(600MHz)
JEOL、JNM-ECX500(500MHz)
400MHz固体超伝導NMR JEOL、JNM-ECX400P
電子スピン共鳴(ESR)装置 JEOL、JES-FA100
表面分析装置 電子線マクロアナライザ(EPMA) 島津製作所、EPMA1610
二次イオン質量分析(SIMS)装置 ULVAC-PHI、ADEPT-1010
光学測定装置 顕微レーザーラマン分光光度計 日本分光、NRS-4100-30
円二色性分散計(CD) 日本分光、J-725
ダイナミック光散乱光度計 大塚電子、DLS-6000
分光エリプソメーター HORIBA JOBIN YVON、 UVISEL ER AGMS-NSD
フェムト秒、サブナノ秒パルスレーザー・蛍光寿命測定装置 Coherent Mira、宇翔KEC-160、浜松ホトニクスC4780
元素分析装置 全自動元素分析装置 Perkin Elmer、2400ⅡCHNS/O
物性測定装 示差走査熱量計・示差熱熱重量同時測定装置 エスアイアイ・ナノテクノロジー、DSC/TG-DTA 6200
段差計/膜厚計装置 微細形状測定器 小坂研究所、ET200