情報機能素子科学研究室の浦岡行治教授に米国電気電子学会（IEEE：The Institute of Electrical and Electronics Engineers）よりFellowの称号が授与されました。

受賞概要

情報機能素子科学研究室の浦岡行治教授が、米国電気電子学会（IEEE: The Institute of Electrical and Electronics Engineers）よりFellowの称号を授与されました。IEEEは、電気、電子、情報通信分野において世界160ヶ国、40万人以上の会員を擁する世界最大の国際学術団体です。Fellowの称号は、これらの分野において世界的に顕著な成果を上げた研究者に対して与えられます。この称号はIEEEメンバーの中で最も厳格な審査を経て、上位0.1%の会員のみに授与される最高位の資格であるため、この受賞は非常に名誉なことです。浦岡教授は、「半導体薄膜デバイスの信頼性評価技術への貢献」という業績により、この称号を受けました。

研究題目・論文タイトル
“Contribution to Reliability Evaluation Technology of Thin Film Devices” 「半導体薄膜デバイスの信頼性評価技術への貢献」

研究者・著者
浦岡行治

受賞者コメント

この度、IEEE Fellowの称号をいただき、大変光栄に思います。この名誉ある受賞は、企業時代にご指導いただいた皆様、そして本学の優秀なスタッフや学生の方々の献身的な努力の結果であり、深く感謝申し上げます。また、この申請過程でご支援いただいた先生方にも心からの感謝を表します。今後は、私の経験と知識を活かし、次世代の研究者や技術者の皆様を支援し、応援していきたいと考えています。

受賞対象となった研究の内容

本研究は、浦岡教授が企業時代から継続して取り組んできたLSI、ディスプレイ、太陽電池といった分野の基盤となる薄膜素子の性能向上と信頼性の向上に関わるものです。世界をリードする高性能ディスプレイの市場導入、発光現象を用いた革新的な性能・信頼性評価技術の開発など、半導体デバイスの進化に大きく貢献してきました。さらに今後、浦岡研究室の多くの卒業生たちが、半導体分野で活躍することが期待されます。