光機能素子科学研究室の修士２年の大原千躍さんがLSIとシステムのワークショップ2026においてIEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Awardを受賞

受賞概要

2026年5月13日～14日に東京大学にて開催されたLSIとシステムのワークショップ2026において、光機能素子科学研究室の修士２年の大原千躍さんがIEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Awardを受賞しました。本賞は、LSIとシステムのワークショップ2026ポスターセッションにおいて優秀な研究発表をおこなった学生に対し授与される賞です。

受賞対象となった研究タイトル・研究者・研究の内容・受賞者コメント

研究題目・論文タイトル

電界撮像向け偏光CMOSイメージセンサの画素分離構造による性能向上

研究者・著者

大原千躍，岡田竜馬, 竹原浩成，春田牧人，田代洋行，太田淳，笹川清隆，奈良先端科学技術大学院大学，公立千歳科学技術大学，九州大学

受賞対象となった研究の内容

本研究では、電気光学効果を用いた電界イメージングの高感度化を目的として、イメージセンサ画素間に溝（トレンチ）構造を形成した偏光イメージセンサを作製しました。電界イメージングでは，シリコンで作られたイメージセンサで受光でき、高速な光変調器や光増幅器が利用できる波長780nm帯を用いる必要があります。しかし、この波長帯は光の侵入長が深く、深部で発生した拡散キャリアが隣接画素へ流入することで、実効的な消光比が低下するという課題がありました。そこで本研究では、偏光イメージセンサのチップ裏面から深掘りエッチング(Deep-RIE)をすることにより画素間トレンチを作製しました。その結果、未加工時には5.0であった消光比が、加工後には8.6まで改善され、本構造の有効性が示されました。

受賞者コメント

この度、LSIとシステムのワークショップ2026においてIEEE SSCS Kansai Chapter Academic Research Awardをいただき大変嬉しく思っております。ご指導いただいた笹川清隆教授、岡田竜馬助授をはじめとする教員・スタッフの皆様、学生メンバーの皆様に心より感謝申し上げます。今回の受賞を励みに、今後も研究活動に真摯に取り組み、より一層精進してまいります。