有機エレクトロニクス研究室のGilbert Lamtecson PadoさんがNC-AFM 2026 Best Student Poster Awardを受賞

受賞概要

2026年8月6日、オーストリア・インスブルックで開催された第27回非接触原子間力顕微鏡国際会議（The 27th International Conference on Non-Contact Atomic Force Microscopy: NC-AFM 2026）において、有機エレクトロニクス研究室のGilbert Lamtecson PadoさんがBest Student Poster Awardを受賞しました。本賞は、優れたポスター発表を表彰するものです。

研究題目・論文タイトル

Noncontact AFM Potentiometry for Nanoscale Potential Imaging via Distance-Derivative Capacitance Analysis

研究者・著者

Gilbert Lamtecson Pado, Eiichi Taji, Ryota Fukuzawa, Hiroaki Benten, and Masakazu Nakamura*

受賞対象となった研究の内容

本研究では、動作中の半導体デバイスの局所電位解析に有望な原子間力顕微鏡ポテンショメトリ（AFMP）を発展させ、非接触でナノスケールの電位分布を解析できる非接触AFMPを開発しました。従来のAFMPは接触を必要とするため、カーボンナノチューブ熱電材料などの脆弱な試料では計測が困難でした。本手法では、距離微分キャパシタンス解析により非接触測定時の寄生容量の影響を抑え、ナノスケールで明瞭な電位分布を得ることに成功しました。これにより、脆弱なナノ材料や動作中デバイスに適用可能な、新しい非接触電位測定技術としての可能性が示されました。

受賞者コメント

I am truly grateful and deeply honored for the opportunity to present our work and to receive the Best Student Poster Award at NC-AFM 2026. It was also a valuable experience to learn from and connect with researchers from around the world working in AFM, surface science, nanoscience, and related fields. I would like to express my sincere appreciation to Professor Masakazu Nakamura, Associate Professor Hiroaki Benten, and Assistant Professor Ryota Fukuzawa, as well as my co-author Eiichi Taji and the other members of the Organic Electronics Laboratory at NAIST, for their invaluable guidance, encouragement, and continued support throughout my research

受賞年月日

2026年8月6日